INSPEKTION OG PAKKE AF ZW SERIEN SVEJSEDIODE
Testmetoder og inspektionsregler
1. Batch-for-batch-inspektion (Gruppe A-inspektion)
Hvert parti af produkter skal inspiceres i henhold til tabel 1, og alle elementer i tabel 1 er ikke-destruktive.
Tabel 1 Inspektion pr. batch
| Gruppe | InspektionVare | Inspektionsmetode | Kriterium | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Udseende | Visuel inspektion (under normale lys- og synsforhold) | Logoet er klart, overfladebelægning og belægning er fri for afskalning og beskadigelse. | 1.5 |
| A2a | elektriske egenskaber | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) i JB/T 7624—1994 | Polaritet omvendt:VFM>10USL IRRM>100USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4.1(25℃) i JB/T 7624—1994 | Klage over kravene | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25℃,170℃) i JB/T 7624—1994 | Klage over kravene | ||
| Bemærk: USL er den maksimale grænseværdi. | ||||
2. Periodisk inspektion (Gruppe B og Gruppe C inspektion)
I henhold til tabel 2 skal de færdige produkter i normal produktion inspiceres mindst et parti af gruppe B og gruppe C hvert år, og kontrolelementerne markeret med (D) er destruktive tests.Hvis den indledende inspektion er ukvalificeret, kan yderligere prøveudtagning efterses i henhold til bilag Tabel A.2, men kun én gang.
Tabel 2 Periodisk eftersyn (Gruppe B)
| Gruppe | InspektionVare | Inspektionsmetode | Kriterium | Prøveudtagningsplan | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Temperaturcyklus (D) efterfulgt af forsegling |
| Måling efter test:VFM≤1,1USL IRRM≤2USL ikke lækage | 6 | 1 |
| CRRL | Angiv kort de relevante attributter for hver gruppe, VFM og jegRRMværdier før og efter testen og testkonklusionen. | ||||
3. Identifikationsinspektion (gruppe D-inspektion)
Når produktet er færdigbehandlet og sat i produktionsvurdering, skal der udover A, B, C gruppeinspektionerne også udføres D gruppetesten i henhold til tabel 3, og inspektionspunkterne markeret med (D) er destruktive tests.Normal produktion af færdige produkter skal afprøves mindst ét parti af gruppe D hvert tredje år.
Hvis den indledende inspektion mislykkes, kan yderligere prøveudtagning efterses i henhold til bilag Tabel A.2, men kun én gang
Tabel 3 Identifikationstest
| No | Gruppe | InspektionVare | Inspektionsmetode | Kriterium | Prøveudtagningsplan | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Termisk cyklus belastningstest | Cyklustider: 5000 | Måling efter test:VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Stød eller vibration | 100g: hold 6ms, halvsinus bølgeform, to retninger af 3 indbyrdes vinkelrette akser, 3 gange i hver retning, i alt 18 gange.20g: 100~2000Hz, 2 timer i hver retning, i alt 6 timer. | Måling efter test: VFM≤1,1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Giv kort de relevante attributdata for hver gruppe, VFM , IRRMog jegDRMværdier før og efter testen og testkonklusionen. | |||||
Mærkning og pakning
1. Mærk
1.1 Mærke på produktet omfatter
1.1.1 Produktnummer
1.1.2 Terminalidentifikationsmærke
1.1.3 Firmanavn eller varemærke
1.1.4 Inspektionspartis identifikationskode
1.2 Logo på kartonen eller vedhæftet instruktion
1.2.1 Produktmodel og standardnummer
1.2.2 Firmanavn og logo
1.2.3 Fugt- og regntætte skilte
1.3 Pakke
Krav til produktemballage skal overholde nationale regler eller kundekrav
1.4 Produktdokument
Produktmodel, implementeringsstandardnummer, specielle krav til elektrisk ydeevne, udseende osv. bør angives på dokumentet.
Detsvejsediodeproduceret af Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor anvendes i vid udstrækning i modstandssvejser, mellem- og højfrekvente svejsemaskiner op til 2000Hz eller derover.Med en ultra-lav fremadspænding, ultra-lav termisk modstand, avanceret fremstillingsteknologi, fremragende substitutionsevne og stabil ydeevne for globale brugere, er svejsedioden fra Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor en af de mest pålidelige enheder fra Kinas kraft halvlederprodukter.